CVE-2024-53017
Orta
Açıklama
test pattern generator IOCTL komutu işlenirken bellek bozulması.
ÖnemOrta
CVSS6.6
İstismar olasılığı—
Ürün
Qualcomm Sdm429w Firmware
Yayın3 Haz 2025
İlk görülme3 Haz 2025
Zayıflık türüCWE-823CWE-823
Nasıl düzeltilir
Kaynaklarda bu zafiyet için düzeltilmiş sürüm ya da yama bağlantısı yok.
Etkilenen ürünler
| Ürün | Etkilenen sürümler | Düzeltildiği sürüm |
|---|---|---|
| qualcomm sdm429w_firmware | Aralık belirtilmemiş | — |
| qualcomm snapdragon_429_mobile_platform_firmware | Aralık belirtilmemiş | — |
| qualcomm wcn3620_firmware | Aralık belirtilmemiş | — |
| qualcomm wcn3660b_firmware | Aralık belirtilmemiş | — |
Sürümünüzü kontrol edin
Ürünü seçin ve kullandığınız sürümü yazın; sürümün etkilenen aralıkta olup olmadığını görün.
Intelligence 360 paketinde
Attack Surface Management
Alan adlarınıza bağlı varlıkları, bu varlıklarda çalışan teknolojileri ve bilinen zafiyetleri tek listede görün.